服务项目
IC真伪检测
DPA检测
失效分析
开发及功能验证
材料分析
可靠性验证
电磁兼容(EMC)
化学分析
无损检测
标签检测
外观检测
X-Ray检测
功能检测
破坏性检测
丙酮测试
刮擦测试
HCT测试
开盖测试
增值服务
烘烤
编带
包装与物流
DPA检测-三级
外观检测
X-Ray检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
非破坏分析
3D数码显微镜
X-Ray检测
超声波扫描(SAT检测)
电性检测
半导体组件参数分析
电特性测试
点针信号量测
静电放电/过度电性应力/闩锁试验
失效点定位
砷化镓铟微光显微镜
激光束电阻异常侦测
Thermal EMMI(InSb)
破坏性物理分析
开盖测试
芯片去层
切片测试
物性分析
剖面/晶背研磨
离子束剖面研磨(CP)
扫描式电子显微镜(SEM)
工程样品封装服务
晶圆划片
芯片打线/封装
竞争力分析
芯片结构分析
新产品开发测试(FT)
FPGA开发
单片机开发
测试电路板设计/制作
关键功能测试
分立元器件测试
功能检测
编程烧录
芯片电路修改
芯片电路修改/点针垫侦错
新型 WLCSP 电路修正技术
结构观察
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
双束聚焦离子束
成分分析
穿透式电子显微镜(TEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
光谱能量分析仪
光谱能量分析仪
车载集成电路可靠性验证
车电零部件可靠性验证(AEC)
板阶 (BLR) 车电可靠性验证
车用系统/PCB可靠度验证
可靠度板阶恒加速试验
间歇工作寿命试验(IOL)
可靠度外形尺寸试验
可靠度共面性试验
环境类试验
高低温
恒温恒湿
冷热冲击
HALT试验
HASS试验
快速温变
温度循环
UV紫外老化
氙灯老化
水冷测试
高空低气压
交变湿热
机械类试验
拉力试验
芯片强度试验
高应变率-振动试验
低应变率-板弯/弯曲试验
高应变率-机械冲击试验
芯片封装完整性-封装打线强度试验
芯片封装完整性-封装体完整性测试
三综合(温度、湿度、振动)
四综合(温度、湿度、振动、高度)
自由跌落
纸箱抗压
腐蚀类试验
气体腐蚀
盐雾
臭氧老化
耐试剂试验
IP防水/防尘试验
IP防水等级(IP00~IP69K)
冰水冲击
浸水试验
JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试
IP防尘等级(IP00~IP69)
电磁兼容(EMC)
射频场感应的传导骚扰抗扰度
传导干扰测试
电磁辐射比吸收率测试
电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电压闪烁测试
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度
工频磁场抗扰度测试
谐波干扰测试
静电放电抗扰度测试
浪涌(冲击)抗扰度测试
辐射干扰测试
无线射频测试
高效液相色谱分析(HPLC)
ROHS检测
裂解/气相色谱/质谱联用分析(PY-GC-MS)
REACH检测
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-OES)
重金属检测
无铅测试
阻燃性试验
阻燃性试验
认证培训
认证服务
培训服务
审厂服务
集成电路设计、整合验证分析服务
AS6081航空航天假冒电子元器件管理体系认证
ISO9001质量管理体系认证
ISO14001环境管理体系认证
ISO45001职业健康安全管理体系认证
ESD 静电管理体系认证
AS9120B 航空电子元件分销管理体系认证
ISO13485医疗器械 管理体系认证
IATF16949 汽车管理体系认证
QC080000 有害物质管理体系认证
管理体系标准培训
AS6081标准培训
ISO 9001标准培训
ISO 14001标准培训
ISO 45001标准培训
ESD S20.20标准培训
AS9120标准培训
ISO 13485标准培训
IATF 16949标准培训
QC 080000标准培训
专业技能培训
AS6081认证检验员
QC组建流程及要求
检测认证流程详解
实验室体系认证流程及标准
芯片行业背景介绍
全球电子产品供应链以及假冒产品如何进入供应链
IC基础知识
电子元器件可靠性验证必要性
电子元器件防伪检测技术前沿与实践
IC检测方法及检测标准
塑封元器件检测
BGA钢面芯片判定
模块等其他特殊封装检测
元器件失效分析介绍
终端客户售后问题解决方案
EMS制造工厂元器件来料质量管理体系完善
指导工程部门对来料管理制度的建立及运行
质检人员集成电路测试理论与方法的培训
集成电路设计、整合验证分析服务
应用领域
案例标准
测试案例(报告形式)
检测标准
IC真伪检测
失效分析
功能检测
开盖检测
X-Ray检测
编程烧录
可焊性测试
外观检测
电特性测试
切片检测
SAT检测
DPA检测
ROHS检测
温度老化测试
IGBT检测
AS6081标准
AEC-Q100测试项目
参考标准
GJB 548标准
新闻动态
关于我们
企业概括 发展历程 荣誉资质 企业文化 人才招聘 联系方式
会员登录
登录 注册
EN
▪公司新闻▪
▪风险分析报告▪
▪行业资讯▪
▪资料下载▪
▪常见问题▪
集成电路中x-ray无损检测技术及其应用
集成电路中x-ray无损检测技术及其应用

电子器件的结构越来越精细,越来越小,X光透视检查产品的NG或OK都是必不可少的,对电子元件进行X-RAY透视的X光检测仪广泛应用于电池、LED、SMT、半导体、铸造、汽车电子、陶瓷产品、塑胶、接插件等行业中一种精密测试设备。XRAY检测是用X射线穿透产品,对产品进行穿透式扫描的无损检测设备,它对产品内部结构异常的检测有着非常重要的意义,现在,随着市场对产品质量的重视,越来越多的产品质量检测仪器受到人们的关注,如尺寸测量仪器、检测仪器等。

2021-08-13 18:14:00
查看详情
浅谈无损检测的发展历程
浅谈无损检测的发展历程

我国于1978年成立了无损检测学,并且随着社会的不断发展,我国的无损检测行业也进入了一个飞速发展的阶段,因此,了为了促进无损检测行业有着更为广阔的市场发展前景,需要分析其发展现状,展望其发展前景。

2021-08-12 18:25:24
查看详情
Xray射线检测应用领域分析说明
Xray射线检测应用领域分析说明

经过原始胶片X射线摄影技术的近100年发展,X射线检查技术已经形成了较为完整的X射线检查技术系统。为满足要求,新的检测技术不断革新,Xray在线检测技术运用就是这其中的佼佼者。它不仅可对不可见焊点进行检测,如BGA等,还可对检测结果进行定性、定量分析,以便及早发现故障。

2021-08-12 18:04:00
查看详情
X-ray用于bga芯片焊接检测
X-ray用于bga芯片焊接检测

BGA器件作为小型器件的典范,近年来广泛应用于电子产品中。与QFP封装器件或PLCC封装器件相比,BGA器件具有引脚数量更多、引脚间电感和电容更小、引脚共面性好、电气性能和散热性能好等诸多优点。

2021-08-12 17:21:00
查看详情
如何利用X光射线检测电路板缺陷虚焊?
如何利用X光射线检测电路板缺陷虚焊?

在电子企业的生产中,焊接是制造电子产品的重要环节之一。如果没有相应的工艺质量保证,就会出现一些电路板问题,单凭肉眼有些缺陷也无法判断。PCB板的常见缺陷是虚焊,粘合和铜箔脱落。在大量生产中,从元器件的筛选测试,到电路板的装配焊接,都是由自动化机械来完成的,有利于保证工艺条件和装焊操作的一致性,提高产品质量。

2021-08-12 17:08:00
查看详情
无损检测的主要技术方法和作用
无损检测的主要技术方法和作用

NDT是无损检测的英文(Non-destructivetesting)缩写。是指对材料或工件实施一种不损害或不影响其未来使用性能或用途的检测手段。通过使用NDT,能发现材料或工件内部和表面所存在的缺欠,能测量工件的几何特征和尺寸,能测定材料或工件的内部组成、结构、物理性能和状态等。广泛用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件的检测。

2021-08-11 17:45:06
查看详情
电子元器件无损检测:工业CT与X射线检测
电子元器件无损检测:工业CT与X射线检测

在无损检测领域工业CT检测和X射线检测,这两种检测方式都是利用了X射线来探测物体的内部。工业CT即工业计算机断层扫描成像,它能在对检测物体无损伤条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。X-ray成像检测机的工作原理,主要是使用X-ray射线的穿透作用,X-ray射线波长很短,能量特别大,照在物质上时,物质只能吸收一小部分,而大部分X-ray射线的能量会从物质原子的间隙中穿过去,表现出极强的穿透能力。关于X-ray射线的吸收不同

2021-08-11 17:37:53
查看详情
元器件常用无损检测技术的应用特点及目的
元器件常用无损检测技术的应用特点及目的

无损检测定义为在不损坏试件的条件下,以物理或化学方法为手段,借助先进的技术和设备器材,对试件的内部及表面的结构,性质,状态进行检查和测试的方法。无损检测技术在工业上有非常广泛的应用,如航空航天、核工业、武器制造、机械工业、造船、石油化工、铁道和高速火车、汽车、锅炉和压力容器、特种设备、以及海关检查等等。那么,无损检测技术的应用特点有哪些呢?

2021-08-11 17:29:00
查看详情
芯片“翻新货”质量怎样?常见的翻新类型有哪些?
芯片“翻新货”质量怎样?常见的翻新类型有哪些?

在半导体短缺的市场行情下,越来越多的假冒芯片开始在电子领域流通。这将给更多的电子产品带来质量风险,并严重损害制造商和用户的利益。散新是行业黑话,通常指没有原包装的芯片,也会用来代指流水线中因质量问题被淘汰的芯片以及翻新芯片。也有些二手翻新芯片能用于新设备,只是消费级芯片使用周期在5年左右,如果翻新后使用,使用寿命和性能参数上会大打折扣。芯片里的“翻新货”质量怎样?常见的翻新货手段又有哪些?如果您对本文即将要涉及的内容感兴趣的话,那就继续往下阅读吧。

2021-08-10 15:03:43
查看详情
为什么电子元器件要进行老化试验?
为什么电子元器件要进行老化试验?

当今,随着科技的进步,电子制造技术也日益发达,集成化程度越来越高,工序越来越多,结构也越来越精细,制造工艺越来越复杂,错综复杂的因素必然会导致在制造过程中隐藏着缺陷,作为电子产品竞争厂家,不断地保证其性能的高精准性,也要保证其质量的稳定性。因此对它进行相关的检验也是必要的,那么为什么要做老化试验呢?

2021-08-10 14:29:38
查看详情
1 2 … 147 148 149 150 151 … 160 161
热门文章
UV测试是什么?UV测试通用检测标准及流程 什么是电气性能?电气性能测试包括什么? 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少? 芯片切片分析是什么?如何进行切片分析试验? 什么是IC测试?实现芯片测试的解决方法介绍 百格测试(cross-cut test)-可靠性测试
热门标签
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 化学分析
  • 外观检测
  • X-Ray检测
  • 功能检测
  • SAT检测
  • 可焊性测试
  • 开盖测试
  • 丙酮测试
  • 刮擦测试
  • HCT测试
  • 切片测试
  • 电子显微镜分析
  • 电特性测试
  • FPGA开发
  • 单片机开发
  • 编程烧录
  • 扫描电镜SEM
  • 穿透电镜TEM
  • 高低温试验
  • 冷热冲击
  • 快速温变ESS
  • 温度循环
  • ROHS检测
  • 无铅测试
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

京ICP证000000号    创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

服务项目
  • IC真伪检测
  • DPA检测
  • 失效分析
  • 开发及功能验证
  • 材料分析
  • 可靠性验证
  • 电磁兼容(EMC)
  • 化学分析
应用领域
  • 5G通讯技术
  • 汽车电子
  • 轨道交通
  • 智慧医疗
  • 光电产业
  • 新能源
案例标准
  • 测试案例
  • 检测标准
新闻动态
  • 企业新闻
  • 风险分析报告
  • 行业资讯
  • 资料下载
  • 常见问题
关于创芯检测
  • 企业状况
  • 发展历程
  • 荣誉资质
  • 企业文化
  • 人才招聘
  • 联系方式

友情链接:

京ICP证000000号

创芯在线 Copyright © 2019 - 2026

首页

报价申请

电话咨询

QQ客服

  • QQ咨询

    客服1咨询 客服2咨询 客服3咨询 客服4咨询
  • 咨询热线

    咨询热线:

    0755-82719442
    0755-23483975

  • 官方微信

    欢迎关注官方微信

  • 意见反馈

  • TOP

意见反馈

为了能及时与您取得联系,请留下您的联系方式

手机:
邮箱:
公司:
联系人:

手机、邮箱任意一项必填,公司、联系人选填

报价申请
检测产品:
联系方式:
项目概况:
提示
确定